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MTI Instruments提供用作測(cè)試測(cè)量位移和區(qū)域的高速、高分辨率和高精密度一維激光傳感器（非接觸線性相位傳感器）。MTI Instruments的激光測(cè)量系統(tǒng)能夠輕松設(shè)置區(qū)域并將其與可見激光區(qū)域點(diǎn)對(duì)齊（在整理激光傳感器之前檢查激光安全檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）。因?yàn)?span style="font-family:Calibri">MTI Instruments的1D激光位移測(cè)量傳感器配置了自動(dòng)增益功能模塊，因此不易受到表面層（即能量反射）紋理、顏色或雜散光的干擾。MTI Instruments的大量非接觸式位移傳感器，包含激光三角測(cè)量傳感器，工作距離為300mm，檢測(cè)范圍為200mm，測(cè)試測(cè)量分辨率低于1μm。

MICROTRAK 4：一維激光位移傳感器

MICROTRAK 4是用作測(cè)試測(cè)量高度、厚度、位移、振動(dòng)等的終極激光位移傳感器。傳感器的幀速率為40K采樣/秒。確保0.03%FSO（滿刻度輸出）精密度和重復(fù)性的線性。

MICROTRAK3：一維激光位移傳感器

高分辨率高速激光位移傳感器（非接觸式線性位移傳感器）選用全新的CMOS傳感器技術(shù)，即便在最困難的測(cè)試測(cè)量應(yīng)用中也是如此。MICROTRAK3是操作過(guò)程自動(dòng)化、質(zhì)量控制和工具自動(dòng)化控制的基本測(cè)量工具。它主要用于厚度測(cè)試測(cè)量、尺寸位移、零件輪廓、振動(dòng)測(cè)試、堆疊測(cè)試測(cè)量和其他應(yīng)用領(lǐng)域。

厚度測(cè)量系統(tǒng)

Microtrak 3激光測(cè)厚儀系統(tǒng)將MTI Instruments經(jīng)驗(yàn)證的激光三角測(cè)量傳感器與模塊化控制器相互結(jié)合，它可以用于一個(gè)獨(dú)立的解決方案運(yùn)作，也能夠與PLC/PC一起運(yùn)作。它通過(guò)高速內(nèi)部采樣和數(shù)字厚度計(jì)算優(yōu)化了激光厚度測(cè)試測(cè)量的應(yīng)用領(lǐng)域，并減少了傳統(tǒng)模擬求和方法中時(shí)常遇到的偏差。

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